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(1)8155接口模块 (2)8255接口模块 (3)8279键盘显示接口模块 (4)8253可编程定时器模块 (5)硬件看门狗电路模块 (6) I2C EEROM模块 (7)8250模块 (8)8251模块 |
(9)I2C存储器模块 (10)I2C时钟模块 (11)单次脉冲模块 (12)93C46串行EEPROM模块 (13)红外线收发模块 (14)DS18B20数字温度传感器模块 (15)开关量输入模块 (16)关量输出模块 |
模块名称 |
功能指标 |
51系列CPU模块 |
支持80C31、80C51,含32K SRAM、64K ROM组成数据总线、地址总线和控制总线 |
Cygnal51CPU模块 |
采用美国Cygnal公司的嵌入式单片机C8051F020芯片,含32K SRAM,组成数据总线、地址总线和控制总线 |
译码模块 |
采用LATTICE公司的ispLSI1016E完成整个系统的译码工作 |
模块名称 |
功能指标 |
8位并行AD模块 |
由AD0809模数转换电路组成8路8位AD。 |
8位并行DA模块 |
由两只DA0832数模转换电路组成2路8位DA。 |
12位并行AD模块 |
由AD574模数转换电路组成12位AD。 |
12位并行DA模块 |
由TLV5613数模转换电路组成12位DA。 |
I/O 扩展模块 |
由两块74LS244芯片扩展成16路并行输入电路。 由两块74LS273芯片扩展成16路并行输出电路。 用74LS164芯片组成串转并输出电路。 用74LS165芯片组成并转串输入电路。 |
转换模块 |
用LM311实现V/F电路和F/V电路 用TLC549芯片组成串行AD转换电路。 用TLC5615芯片组成串行DA转换电路。 |
模块名称 |
功能指标 |
RS232/RS485/CAN总线通信模块 |
由MAX232芯片组成RS232通信电路,MAX485芯片组成RS485通信电路。 由SJA1000芯片和TJA1050芯片组成CAN总线电路。 |
USB通信模块 |
由1581芯片组成USB2.0通信模块 |
网络控制器模块 |
采用RTL8019AS芯片 |
模块名称 |
功能指标 |
静态显示模块 |
由74LS164芯片驱动 |
动态显示模块 |
采用8位8段LED数码管。 |
液晶显示模块 |
提供128*64点阵的液晶显示屏 |
CPLD模块 |
采用LATTICE公司1032芯片 |
4*4行列式键盘 |
公共键盘 |
模块名称 |
功能指标 |
继电器模块 |
由两个5V继电器、2个12V继电器和2个24V继电器组成。 |
光耦隔离模块 |
由3个TLP521-4芯片组成12入12出。 |
LED显示模块 |
用16个LED灯组成逻辑电平测试电路 |
开关量模块 |
用16个按键组成高低电平输出电路 |
模块名称 |
功能指标 |
IC卡读写模块 |
I2C总线实现IC卡的读写及识别 |
直流电机 |
带驱动小直流电机,测速部分由1个霍尔传感器组成 |
步进电机 |
采用四相步进电机,带驱动电路 |
交通灯模块 |
采用16个LED灯和四位数码管组成。 |
语音处理模块 |
采用1730专用语音芯片组成 |
PWM调制模块 |
由324运放芯片组成,用于小直流电机调速 |
1.金属箔式应变片一单臂电桥性能实验 2.金属箔式应变片一半桥性能实验 3.金属箔式应变片一全桥性能实验 4.直流全桥的应用一电子秤实验 5.交流全桥的应用一振动测量实验 6.扩散硅压阻压力传感器差压测量实验 7.差动变压器的性能实验 8.激励频率对差动变压器特性的影响实验 9.差动变压器零点残余电压补偿实验 10.差动变压器的应用一一振动测量实验 11.电容式传感器的位移特性实验 12.电容传感器动态特性实验 13.直流激励时霍尔式传感器的位移特性实验 14.交流激励时霍尔式传感器的位移特性实验 15.霍尔测速实验 16.霍尔式传感器振动测量实验 |
17.磁电式转速传感器的测速实验 18.压电式传感器振动实验 19.电涡流传感器的位移特性实验 20.被测体材质、面积大小对电涡流传感器的特性影响实验 21.光纤传感器的位移特性实验 22.光电转速传感器的转速测量实验 23.PTl0温度控制实验 24.集成温度传感器AD590的温度特性验 25.铂电阻温度特性实验 26.K型热电偶测温实验 27.E型热电偶测温实验 28.气敏传感器实验 29.湿敏传感器实验 30.转速控制实验 |
1.清零程序 2.拆字程序 3.拼字程序 4.数据区传送子程序 5.数据排序实验 |
6.查找相同数据个数 7.无符号双字节快速乘法子程序 8.多分支程序 9.多分支程序 10.电脑时钟实验 |
1.P1口亮灯实 2.P1口转弯灯实验 3.P3.3口输入,P1口输出实验 4.工业顺序控制实验 5.8255 A、B、C口输出方波实验 6.8255 PA口控制PB口 7.8255控制交通灯 8.简单I/O扩展实验 9.并行ADC 0809转换实验 10.并行DAC 0832转换实验 11.8279键盘显示实验 *12.通用打印机实验 13.微型打印机实验 14.I2C储存卡读写实验 15.语音芯片ISD173控制实验(录音) 16.语音芯片ISD1730控制实验(放音) 17.继电器控制实验 18.步进电机控制 19.8253方波实验 20.小直流电机调速实验 21.16*16 LED点阵显示实验 22.128*64 LCD液晶显示实验 23.8250可编程异步通讯接口实验 24.8251可编程通讯接口实验 25.单片机RS232/485串行发送实验 26.单片机RS232/485串行接收实验 |
27.DS18B20单总线温度测量实验 28.红外线遥控收发实验 29.串行A/D TLC549转换实验 30.串行10位D/A TLC5615转换实验 31.PCF8563 I²C日历时钟实验 32.MAX813看门狗实验 33.PWM脉宽调制实验 34.74LS164串并转换 35.74LS165并串转换 36.LM331 V/F转换实验 37.AT24C02 I2C总线存储器读写实验 38.串行存储芯片93C46读写实验 39.电子音乐演奏实验 40.CAN总线通讯接口实验 41.以太网TCP/IP协议接口实验 42.USB2.0通讯接口实验 43.LM331 F/V转换实验 44.LM331 V/F转换实验 45.AD574 12位并行模数转换实验 46.TLV5613 12位并行数模转换实验 47.4*4行列式键盘实验 48.8位静态显示器实验 49.8位动态显示器实验 50.光耦隔离模块实验 51.模拟十字路口交通灯实验 |
1.数字I/O口交叉开关设置实验 2.UART串能通讯实验 3.配置内部和外部振荡器实验 4.片内模数转换(ADC)实验 5.I/O输入、输出实验 6.片内数模转换(DAC)实验 |
7.定时器实验 8.SRAM外部数据存储器扩展实验 9.外部中断实验 10.SPI串行Flash存储器数据读写实验 11.计数器实验 |
1.键盘、LED发光管实验 2.行列式键盘、动态显示实验 3.单片机控制的PWM实现D/A转换 4.单片机控制PWM实现F/V转换 5.测量电机转速实验 6.单片机控制电机转速实验(D/A) 7.单片机控制电机转速实验(PWM) 8.温度采集实验 9.IC卡原理实验 10.考勤机实验 11.身份认证实验 12.门禁系统设计 13.单片机实现Pc机键盘控制器实验 |
14.用单片机实现高精度脉冲测频 15.单片机实现的线性V/F转换实验 16.基于微机控制通信的单片机通用数据采集系统 17.基于以太网的远程数据采集系统 18.IC系统实验 19.R8485总线实验 20.简单多任务实时操作系统实验 21.智能家居远程控制模拟系统设计 22.单片机以太网实验 23.远程抄表系统 24.基于USB的数据采集卡设计 25.家庭智能报警系统 |
1.基本运算单元实验 2.阶跃响应与冲激响应实验 3.连续时间系统的模拟实验 4.有源、无源滤波器实验 5.抽样定理与信号恢复实验 6.二阶网络状态轨迹的显示实验 7.一阶电路的暂态响应实验 |
8.二阶电路的暂态响应实验 9.二阶电路传输特性实验 10.二阶网络函数的模拟实验 11.矩形脉冲信号的分解实验 12.矩形脉冲信号的合成实验 13.谐波幅度对波形合成的影响实验 14.面包板单元,可自行设计实验电路。 |
1.A/D,D/A转换 2.采样保持器 3.数字滤波 4.积分分离式PID控制 5.最小拍有纹波系统实验 |
6.最小拍无纹波系统实验 7.大林算法控制 8.非线性控制 9.解耦控制 10.综合控制实验 |
1.典型环节的模拟研究 2.典型系统瞬态响应和稳定性 3.系统校正 4.控制系统的频率特性 5.典型非线性环节 |
6.非线性系统(一) 7.非线性系统(二) 8.采样系统分析 9.采样控制系统的校正 l0.状态反馈(极点配置) |
1.差动放大器实验; 2.信号放大器实验; 3.信号运算电路实验; 4.电压比较器实验; 5.电阻链分相细分实验; 6.幅度调制及解调实验 |
7.调相电桥实验; 8.脉宽调制电路实验; 9.调频及鉴频实验; 11.开关式相乘调制及解调实验; 12.精密整流全检波实验; 13.开关式全波相敏检波实验。 |